功率MMIC芯片加速寿命试验方法研究

　　本文分析了单片微波集成电路 (MMIC)芯片的主要失效模式和失效机理,其与MESFET等有源器件的主要失效模式和失效机理基本相似,并简要介绍了加速寿命的试验原理。基于此,研 究给出了包括试验样品的预处理、敏感参数及失效判据的确定、温度应力的选取、失效分析和数据处理等内容的功率MMIC芯片的加速寿命试验方法。

　　电子放大器又按所用有源器件分为真空管放大器、晶体管放大器、固体放大器和磁放大器，其中又以晶体管放大器应用最广。在自动化仪表中晶体管放大器常用于信号的电压放大和电流放大，主要形式有单端放大和推挽放大。此外，还常用于阻抗匹配、隔离、电流-电压转换、电荷-电压转换(如电荷放大器)以及利用放大器实现输出与输入之间的一定函数关系(如运算放大器)。