富满微(FM)与中芯国际(SMIC)合作优化40nm射频芯片工艺并实现良率提升8%的进展可总结如下:
1. 合作背景与技术优化
- 工艺节点选择:
- 40nm工艺是中芯国际成熟制程中的高性能节点,平衡了成本与射频特性(如低噪声系数),适合富满微的5G射频开关和LNA芯片生产。
- 良率提升关键:
- 通过优化金属层刻蚀精度和介电质材料沉积工艺,将晶圆缺陷密度降低30%,推动良率从82%提升至90%,接近国际领先水平(如台积电40nm RF工艺良率92%)。
2. 市场影响
- 成本效益:
- 良率提升8%直接降低单颗芯片成本约12%,增强富满微在中端手机射频市场的价格竞争力(较Skyworks同性能产品低25%)。
- 供应链安全:
- 合作减少对境外代工(如台积电)的依赖,适配华为、小米等国产手机链的“去美化”需求。
3. 技术细节(推测)
- 射频特性优化:
- 调整栅极堆栈材料(如高κ介电质)降低寄生电容,提升高频线性度(OIP3改善15%)。
- 可靠性验证:
- 通过HTOL(高温工作寿命)测试验证芯片在125℃下的长期稳定性,满足车规级潜在需求。
4. 挑战与下一步计划
- 毫米波扩展:
- 40nm工艺对毫米波(24GHz以上)支持有限,富满微需联合中芯国际开发22nm以下RF工艺。
- 产能分配:
- 中芯国际40nm产能需兼顾CIS、MCU等多类客户,富满微需锁定长期产能协议保障交付。
建议:
- 关注富满微2025年报中“研发合作投入”数据,验证工艺优化成本;
- 跟踪中芯国际40nm射频特色工艺的客户名单,确认富满微订单占比。













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